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LED PROBE CARD

LED PROBE CARD

  • FLIP CHIP 검사용 VERTICAL BLADE TYPE 고객의 NEEDS 에 부응하는 최적의 제품구현, 고객 조건에 맞는 기술개발 가능(high power). CHIP, WAFER 형태, 탐침 부위가 위가 아닌 아래로 뒤집힌 소자를 하부에서 탐침, 상부에서 발광 및 신호를 측정 하여 불량 여부를 검출하는 제품 특허1종·디자인 등록 3종 출원·기술임치 완료

  • 광 측정 검사용 PIN TYPE 고객의 NEEDS 에 부응하는 최적의 제품구현,특허기술 다량보유, 고객 조건에 맞는 기술개발 가능(high power,micro led등). LED CHIP,WAFER 형태의 소자를 1~4pcs, 소량을 탐침 하여 광 측정 및 신호를 측정 하여 불량 여부 검출하는 제품

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