FLIP CHIP 검사용 VERTICAL BLADE TYPE 고객의 NEEDS 에 부응하는 최적의 제품구현, 고객 조건에 맞는 기술개발 가능(high power). CHIP, WAFER 형태, 탐침 부위가 위가 아닌 아래로 뒤집힌 소자를 하부에서 탐침, 상부에서 발광 및 신호를 측정 하여 불량 여부를 검출하는 제품 특허1종·디자인 등록 3종 출원·기술임치 완료
광 측정 검사용 PIN TYPE 고객의 NEEDS 에 부응하는 최적의 제품구현,특허기술 다량보유, 고객 조건에 맞는 기술개발 가능(high power,micro led등). LED CHIP,WAFER 형태의 소자를 1~4pcs, 소량을 탐침 하여 광 측정 및 신호를 측정 하여 불량 여부 검출하는 제품
이메일주소무단수집을 거부합니다.
본 웹사이트에 게시된 이메일 주소가 전자우편 수집 프로그램이나 그 밖의 기술적 장치를 이용하여 무단으로 수집되는 것을 거부하며, 이를 위반시 정보통신망법에 의해 형사 처벌됨을 유념하시기 바랍니다.
