RF PROBE CARD 고객의 NEEDS에 부응하는 최적의 제품구현,국내 RF 선두주자. WAFER 형태 SIGNAL, GND 구성의 소자를 탐침 하여 신호 및 주파수 특성 등 을 측정하여 불량 여부 검출하는 제품. 우수한 고주파 특성RF, SAW FILTER, WIRELESS IC 등의 테스트에 최적화

RF Module 검사용 JIG 고객의 NEEDS에 부응하는 최적의 제품구현,국내 RF 선두주자. MODULE형태 여러 구성으로 규격화된 부품을 탐침하여 DATA 및 주파수 특성 등 을 측정 하여 불량 여부 검출하는 제품

RF Probe card (DC) 고객의 NEEDS에 부응하는 최적의 제품구현, 고객 조건에 맞는 기술개발 가능. WAFER 혹은 회로기판 형태의 소자를 Blade 혹은 Cantilever 방식으로 제작, 탐침하여 불량검출여부와 Signal 및 Data를 측정 하는 제품